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Freiberg MDP技術(shù)：硅錠p-n結(jié)高精度在線定位與原料提效在光伏產(chǎn)業(yè)高速發(fā)展的今天，硅材料成本占太陽能電池總成本的40%以上。為降低生產(chǎn)成本，行業(yè)普遍采用低純度冶金級硅（umg-Si），但其高磷雜質(zhì)含量易導(dǎo)致硅錠頂部形成n型導(dǎo)電區(qū)，造成材料浪費。傳統(tǒng)電阻率檢測技術(shù)受限于分辨率低（通常>10mm）、無法全區(qū)域掃描等缺陷，導(dǎo)致切割后硅片良率損失高達5%-8%。FreibergInstruments公司憑借自主研發(fā)的微波檢測光電導(dǎo)技術(shù)（MDP），成功 -
MDP技術(shù)實現(xiàn)硅材料載流子精準測量在光伏產(chǎn)業(yè)追求更高效率與更低成本的今天，材料質(zhì)量的前端控制成為決定太陽能電池性能的關(guān)鍵。德國弗萊貝格儀器公司（FreibergInstrumentsGmbH）憑借其全球領(lǐng)先的微波探測光電導(dǎo)技術(shù)（MicrowaveDetectedPhotoconductivity,MDP），為硅材料從鑄錠到晶圓的全程質(zhì)量控制提供了革命性解決方案。一、MDP技術(shù)：定義半導(dǎo)體表征標準傳統(tǒng)壽命測量技術(shù)如mPCD（瞬態(tài) -
MDP 技術(shù)-硅錠質(zhì)量評估的 “透視眼”在光伏生產(chǎn)鏈中，硅錠材料質(zhì)量評估對晶體生長者優(yōu)化結(jié)晶過程、電池、芯片制造商篩選材料以降本增效極為重要。傳統(tǒng)依賴最終效率的反饋方式存在諸多不足，MDP技術(shù)則為早期質(zhì)量評估提供了新途徑。FreibergInstruments相關(guān)技術(shù)或設(shè)備助力實現(xiàn)用MDP技術(shù)在硅磚四個側(cè)面以1mm分辨率測量空間壽命和電阻率圖像。這種測量具有非接觸、可在線操作且無需校準的優(yōu)勢。MDP技術(shù)能夠?qū)уV的空間分辨載流子壽命 -
雙面PERC電池的可逆與不可逆PID快速測試解決方案雙面單晶硅電池在正反兩面都可以接受光照，因此在太陽能的利用效率上較傳統(tǒng)的單面電池具有諸多方面的優(yōu)點，雙面晶硅電池技術(shù)脫穎而出，占據(jù)太陽能電池的主導(dǎo)地位。雙面PERC電池背面PID會導(dǎo)致嚴重的功率損失。與單面PERC太陽能電池相比，可以發(fā)生可逆的去極化相關(guān)電位誘導(dǎo)衰退（PID-p）和不可逆的腐蝕電位誘導(dǎo)衰退（PID-c）。研究表明，一個可靠的評估太陽能電池功率損失的方法需要一種改進的PID測試方
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